抗干擾介損測試儀介紹：

現場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結構，內置介損電橋、變(bian)頻(pin)電源、試驗變(bian)壓器和(he)標(biao)準電容器等。采用變(bian)頻抗(kang)干擾(rao)和傅立葉變(bian)換數(shu)字濾波技術，全自動智能化測量，強干擾(rao)下測量數(shu)據非(fei)常(chang)穩(wen)定。測量結果由大屏幕液晶(jing)顯示，自帶微型打印機可打印輸出。

1.1 主要(yao)技術指(zhi)標

準確度(du)：  Cx:  ±（讀數×1%+1pF）TD2690E變頻抗干擾介質損(sun)耗測(ce)試儀用

tgδ: ±（讀數×1%+0.00040）

抗(kang)干擾(rao)指標：變頻抗(kang)干擾(rao)，在200%干擾(rao)下(xia)仍(reng)能達(da)到上述準確(que)度(du)

電(dian)容量范圍(wei)： 內施高(gao)壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV

外施(shi)高壓(ya)： 3pF～1.5μF/10kV  60pF～30μF/0.5kV

分辨(bian)率：  0.001pF，4位(wei)有效(xiao)數字(zi)

tgδ范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識(shi)別。

試驗電流范圍：10μA～5A

內施(shi)高壓： 設定電壓范圍：0.5～10kV

輸出電流(liu)：200mA

升降壓方式： 連續平滑(hua)調節

電壓(ya)精度： ±(1.5%×讀數+10V)

電(dian)壓(ya)分辨率： 1V

試驗頻(pin)率： 45、50、55單頻(pin)

頻率精度： ±0.01Hz

外(wai)施(shi)高壓： 正接線時試驗電流1A，工頻或(huo)變頻40-70Hz

反接線時試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自(zi)激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

測量(liang)時間： 約(yue)40s，與(yu)測量(liang)方式有(you)關(guan)

輸入電源： ;180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發(fa)電機供(gong)電

計算(suan)機接(jie)口： 標準RS232接(jie)口

打印機(ji)：  煒(wei)煌A7熱敏微型打印機(ji)

環境溫度： -10℃～50℃

相對濕度： <90%